1879年，霍尔(E. H. Hall)在研究通有电流的导体在磁场中受力的情况时，发现在垂直于磁场和电流的方向上产生了电动势，这个电磁效应称为“霍尔效应” 。利用霍尔效应，可以确定半导体的导电类型和载流子浓度，利用霍尔系数和电导率的联合测量，可以用来研究半导体的导电机构(本征导电和杂质导电)和散射机构(晶格散射和杂质散射)，进一步确定半导体的迁移率、禁带宽度、杂质电离能等基本参数。本实验从液氮温度开始，测量温度变化对霍尔效应的影响。通过实验，学习和了解半导体中霍尔效应的产生机制，掌握动态法测量霍尔系数和电导率随温度变化的实验方法。
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